寿命测试系统及方法

摘要

一种寿命测试系统包括第一、第二探测装置、处理器、运动模块及存储模块，两探测装置、运动模块及存储模块均与处理器相连，所述运动模块上设置有第一、第二感应物，所述处理器用于控制运动模块的运动及计算两探测装置分别感应到两感应物的次数，所述存储模块用于存储两探测装置分别感应到两感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。所述寿命测试系统可以精确的测量所述第一探测装置的寿命。本发明还提供了一种利用上述寿命测试系统进行寿命测试的方法。

主权项

一种寿命测试系统，用于测试一第一探测装置的寿命，所述寿命测试系统包括一第二探测装置、一处理器、一运动模块及一存储模块，所述第一、第二探测装置、运动模块及存储模块均与所述处理器相连，所述运动模块上设置有一第一感应物及一第二感应物，所述处理器用于控制所述运动模块的运动及计算所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，所述存储模块用于存储所述第一及第二探测装置分别感应到所述第一感应物及第二感应物的次数，当所述第一探测装置感应到所述第一感应物的次数不等于所述第二探测装置感应到所述第二感应物的次数时，所述第一探测装置寿命不合格。