发明名称 使用检验指示的电路设计校验
摘要 本设计校验方法包括:提供电路设计;为电路设计产生激励树图,其中,激励树图包括L个激励、M个检验指示分叉和N个非检验指示分叉;执行激励树图,其中,所述执行激励树图包括,在i=1,...,M的情况下,执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉,其中,执行第i个检验指示分叉又包括:(a)保存第i个模拟环境中的第i个上下文,在此模拟环境中进行所述执行激励树图的操作;(b)在进行了所述保存第i个上下文的操作之后,从第i个上下文开始,沿着从第i个检验指示分叉分支出来的、共有15个激励的激励树图的Pi个路径来执行,其中,第i个检验指示分叉是Pi路分叉,在此,Pi是大于1的整数。
申请公布号 CN101273359B 申请公布日期 2010.06.16
申请号 CN200680035587.3 申请日期 2006.09.06
申请人 国际商业机器公司 发明人 贾森·M·诺曼;杰西·E·克雷格
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 黄小临
主权项 一种设计校验方法,包括:提供电路的电路设计;产生电路设计的激励树图,其中,激励树图包含L个激励,L是大于4的整数,其中,每个激励代表电路输入的具体的二进制值,其中,激励树图代表将激励加到电路上的各种序列;其中,激励树图还包含M个检验指示分叉,M是大于1的整数,其中,检验指示分叉是激励树图中的点,必须在该点上就哪个是要施加的下一个激励做出决定,执行激励树图,其中,所述执行激励树图包括,对i=1,...,M,执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉,其中,所述执行第i个检验指示分叉包括:保存第i个模拟环境中的第i个上下文,在该模拟环境中进行所述执行激励树图;在进行所述保存第i个上下文之后,从第i个上下文开始沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行,其中,第i个检验指示分叉是Pi路分叉,Pi是大于1的整数,其中,在每个检验指示分叉处,创建新的模拟环境,以便探测检验指示分叉的路径。
地址 美国纽约