| 发明名称 | LED后段流程中的测试及分选方法 | ||
| 摘要 | 一种LED后段流程中的测试及分选方法，其特征在于包括以下步骤：第一步骤：测试一晶圆上产生的每一晶粒的属性数据与第一绝对坐标；第二步骤：根据所述属性数据与所述第一绝对坐标产生一晶圆地图档案；第三步骤：接收所述晶圆并读入所述晶圆地图档案；第四步骤：根据所述第一绝对坐标移动一捡取装置到一第一位置；第五步骤：提供一影像信息补偿所述第一位置的误差，使所述捡取装置移动到一第二位置，所述第二位置具有一第二绝对坐标；第六步骤：比对所述第二绝对坐标与所述第一绝对坐标，当两者之间的误差在一允许范围内时，根据所述第一绝对坐标对应的属性数据分选所述晶粒。 | ||
| 申请公布号 | CN101740431A | 申请公布日期 | 2010.06.16 |
| 申请号 | CN200810177713.X | 申请日期 | 2008.11.11 |
| 申请人 | 旺矽科技股份有限公司 | 发明人 | 刘永钦;蔡振扬;陈秋旺;何宜达 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I;B07C5/34(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人 | 张恒康 |
| 主权项 | 一种LED后段流程中的测试及分选方法，其特征在于包括以下步骤：第一步骤：测试一晶圆上产生的每一晶粒的属性数据与第一绝对坐标；第二步骤：根据所述属性数据与所述第一绝对坐标产生一晶圆地图档案；第三步骤：接收所述晶圆并读入所述晶圆地图档案；第四步骤：根据所述第一绝对坐标移动一捡取装置到一第一位置；第五步骤：提供一影像信息补偿所述第一位置的误差，使所述捡取装置移动到一第二位置，所述第二位置具有一第二绝对坐标；第六步骤：比对所述第二绝对坐标与所述第一绝对坐标，当两者之间的误差在一允许范围内时，根据所述第一绝对坐标对应的属性数据分选所述晶粒。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹县竹北市中和街155号1-3楼 | ||