发明名称 光学设备及其坐标校正方法
摘要 本发明公开了一种光学设备及其坐标校正方法,该方法是用以校正与调整该光学设备的一扫描坐标系与一感应坐标系间的一正交角度差,以使该正交角度差归零。该方法是先制备一校正元件,其表面上标记有二不相平行的校正直线,然后,利用感应坐标系感应上述二校正直线以计算出二初始直线方程式,接着,沿该扫描坐标系的一扫描方向移动校正元件,以使上述二校正直线亦同时沿扫描方向移动,之后,再利用感应坐标系感应上述二校正直线以计算出二校正直线方程式,最后,利用校正直线方程式与初始直线方程式来计算出扫描坐标系与感应坐标系间的正交角度差,并调整感应坐标系或扫描坐标系,以使正交角度差归零。
申请公布号 CN101303440B 申请公布日期 2010.06.16
申请号 CN200710102246.X 申请日期 2007.05.08
申请人 中茂电子(深圳)有限公司 发明人 林耀明
分类号 G02B7/00(2006.01)I;H04N1/04(2006.01)I 主分类号 G02B7/00(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 何春兰
主权项 一种光学设备的坐标校正方法,是用以校正与调整该光学设备的一感应坐标系与一扫描坐标系间的一正交角度差,以使该正交角度差归零,该方法包含:(a)制备一校正元件,其一表面上标记有二不相平行的校正直线;(b)利用该感应坐标系感应上述二校正直线以分别计算出二初始直线方程式;(c)使该校正元件沿该扫描坐标系的一扫描方向而对该感应坐标系相对移动,以使上述二校正直线亦同时沿该扫描方向而对该感应坐标系相对移动;(d)在完成步骤(c)后,利用该感应坐标系感应上述二校正直线以分别计算出二校正直线方程式;以及(e)利用该校正直线方程式与该初始直线方程式来计算出该感应坐标系与该扫描坐标系间的该正交角度差,并调整该感应坐标系或该扫描坐标系,以使该正交角度差归零。
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