发明名称 一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置
摘要 本发明涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。本发明中,通过修改上位机软件中的参考量化值(ADset),补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差,节约了硬件电路中的可调器件,又实现了远程的生产调试,提高了调试效率。
申请公布号 CN101739019A 申请公布日期 2010.06.16
申请号 CN200810179627.2 申请日期 2008.11.23
申请人 三科电器有限公司 发明人 周熙文;方兴余
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法,其特征在于,包括以下步骤:检测被控量的真实值;将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较,若相等,则执行步骤A;否则,执行步骤B;步骤A:操作上位机,向下位机发送保存参考量化值(ADset)的指令;步骤B:操作上位机,向下位机发送递增或递减参考量化值(ADset)的指令。
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