发明名称 |
一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置 |
摘要 |
本发明涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。本发明中,通过修改上位机软件中的参考量化值(ADset),补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差,节约了硬件电路中的可调器件,又实现了远程的生产调试,提高了调试效率。 |
申请公布号 |
CN101739019A |
申请公布日期 |
2010.06.16 |
申请号 |
CN200810179627.2 |
申请日期 |
2008.11.23 |
申请人 |
三科电器有限公司 |
发明人 |
周熙文;方兴余 |
分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
主分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法,其特征在于,包括以下步骤:检测被控量的真实值;将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较,若相等,则执行步骤A;否则,执行步骤B;步骤A:操作上位机,向下位机发送保存参考量化值(ADset)的指令;步骤B:操作上位机,向下位机发送递增或递减参考量化值(ADset)的指令。 |
地址 |
325600 浙江省乐清市经济开发区纬十一路258号三科电器有限公司 |