发明名称 |
平板式检测器及介质检测器 |
摘要 |
本发明公开了一种平板式检测器及介质检测器。该平板式检测器包括:第一平板部件和第二平板部件,其均由非磁性非金属制成;第一导体配线,其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上,用于形成交变磁场;第一层,其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的表面上;第二导体配线,其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上,用于对通过磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测,由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转;以及第二层,其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的表面上。 |
申请公布号 |
CN101738590A |
申请公布日期 |
2010.06.16 |
申请号 |
CN200910147377.9 |
申请日期 |
2009.06.18 |
申请人 |
富士施乐株式会社 |
发明人 |
栗原英三;松田司;高桥邦广;井上浩良;马里奥·福斯;山口昭治 |
分类号 |
G01R33/12(2006.01)I;B07C5/344(2006.01)I |
主分类号 |
G01R33/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
顾红霞;龙涛峰 |
主权项 |
一种平板式检测器,包括:第一平板部件和第二平板部件,其均由非磁性非金属制成,所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙;第一导体配线,其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上,用于形成交变磁场;第一层,其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上;第二导体配线,其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上,用于对通过包含在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测,由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转;以及第二层,其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。 |
地址 |
日本东京 |