发明名称 |
一种自动光学检测设备及其检测方法 |
摘要 |
一种自动光学检测设备(Automated Optical Inspection;AOI),用以检测一待测物的多个表面,该待测物可为一电子组件。该自动光学检测设备包含一光源装置,一影像感测装置,以及一光学结构件,其中,该光学结构件包含一基座与多个反射结构。当检测该多个表面的待测物时,将该待测物置于该些反射结构间,该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线,再反射至该影像感测装置。 |
申请公布号 |
CN101738395A |
申请公布日期 |
2010.06.16 |
申请号 |
CN200810177069.6 |
申请日期 |
2008.11.19 |
申请人 |
中茂电子(深圳)有限公司 |
发明人 |
潘世耀;冯胜凯;王铭辉;简宏达 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
梁挥;张燕华 |
主权项 |
一种自动光学检测设备,用以检测一待测物的多个表面,其特征在于,该自动光学检测设备包含:一光源装置,用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面;一影像感测装置,接收该待测物的反射光线以产生一检测影像;以及一光学结构件,装设于该光线的光径上,包含:一基座,多个反射结构,设置于该基座上,该待测物置于该些反射结构间,该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线,再反射至该影像感测装置。 |
地址 |
518054 广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层 |