发明名称 8晶体管型低漏电静态随机存取内存单元
摘要 本发明揭露一种静态随机存取内存(static random access memory,SRAM)单元,包含一对交错耦合反向器,含有第一储存节点,以及第一N型金属氧化物半导体晶体管,含有栅极,第一与第二源/漏极,分别与第一储存节点,读入字符线(read word-line,RWL)以及第一读入位线(read bit-line,RBL)相连,读入字符线以及第一读入位线在进行读取动作时被启动,而在进行写入动作时不被启动。
申请公布号 CN101740116A 申请公布日期 2010.06.16
申请号 CN200910140788.5 申请日期 2009.05.15
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 吴瑞仁;陈炎辉;周绍禹;廖宏仁
分类号 G11C11/412(2006.01)I;G11C11/419(2006.01)I 主分类号 G11C11/412(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 陈红
主权项 一种静态随机存取内存单元,其特征在于,包含:一对交错耦合反向器,含有一第一储存节点;以及一第一N型金属氧化物半导体晶体管,含有一栅极,一第一与一第二源/漏极,分别与该第一储存节点,一读入字符线以及一第一读入位线相连,该读入字符线以及该第一读入位线在进行一读取动作时被启动,而在进行任一写入动作时不被启动。
地址 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号