发明名称 |
一种用于智能天线基站的通道相干性测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种用于智能天线基站的通道相干性测试方法,用于测试基站的多个上行通道或多个下行通道,包括:以一通道做为基准通道,另一通道做为待测通道,关闭其余的通道;保持基准通道的权值不变,改变待测通道的权值,使合成带内功率最小并将该带内功率最小值作为第一功率值,将权值的相位加上或减去180°并记录此时的合成带内功率值作为第二功率值;根据所述第二和第一功率值的差值判断待测通道和基准通道之间的相干性;保持基准通道不变,逐一选取其余的通道作为待测通道,根据以上方式逐一判断每个待测通道与所述基准通道之间的相干性。本发明解决了现有技术没有专用的仪表用来系统进行通道之间的相干性测试的问题。 |
申请公布号 |
CN1777071B |
申请公布日期 |
2010.06.16 |
申请号 |
CN200410009798.2 |
申请日期 |
2004.11.15 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
康凤岐;王云峰;毛建华 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于智能天线基站的通道相干性测试方法,用于测试基站阵列通道的多个上行通道或多个下行通道,其特征在于,包括:步骤一,以所述阵列通道中的任一通道做为基准通道,另一通道做为待测通道,关闭其余的通道;保持基准通道的权值不变,改变待测通道的权值,使待测通道与基准通道的合成带内功率最小并将该带内功率最小值作为第一功率值,记下此时的权值作为第一权值,将所述第一权值的相位加上或减去180°并记录对应的合成带内功率值作为第二功率值;若所述第二功率值和第一功率值的差值大于系统预定的相干性门限,则所述待测通道和所述基准通道之间的相干性得到满足;步骤二,保持基准通道不变,逐一选取其余的通道作为待测通道,根据步骤一中的方式逐一判断每个待测通道与所述基准通道之间的相干性;其中,所述步骤一中,所述权值包括幅度权和相位权,改变待测通道的权值是先保持待测通道的幅度权,逐步改变待测通道的相位权得到一个最小的合成带内功率值,然后保持此时的待测通道的相位权并逐步改变待测通道的幅度权,再次得到一个最小的合成带内功率值,并将该再次得到的最小的合成带内功率值作为所述第一功率值。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 |