发明名称 | 一种电光调制器线性度测试装置 | ||
摘要 | 一种电光调制器线性度测试装置,当被测电光调制器为强度调制器时,光源光波送入被测电光调制器,调制信号发生器产生调制信号送入被测电光调制器、第一和第二解调电路,测试信号发生器产生测试信号送入被测电光调制器和第一解调电路,在被测电光调制器内,调制信号使两光波产生调制相位差,测试信号使两光波产生测试相位差,两光波干涉后送入探测器,经光电转换后送至第二解调电路,第一解调电路获取测试信号大小,第二解调电路获取测试相位差;当被测电光调制器为Y波导集成光学器件时,光源光波经调制用电光调制器后送至被测电光调制器,调制信号发生器调制信号送入调制用电光调制器,测试信号发生器测试信号送入被测电光调制器,其余结构不变化。 | ||
申请公布号 | CN101408477B | 申请公布日期 | 2010.06.16 |
申请号 | CN200810226744.X | 申请日期 | 2008.11.21 |
申请人 | 北京航天时代光电科技有限公司 | 发明人 | 王学锋;王巍;于海成;高峰;王军龙 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人 | 安丽 |
主权项 | 一种电光调制器线性度测试装置,其特征在于包括:光源(201)、探测器(204)、调制信号发生器(206)、测试信号发生器(208)、第一解调电路(210)、第二解调电路(211);当被测电光调制器(203)为强度调制器时,光源(201)发出的光波送入被测电光调制器(203),调制信号发生器(206)产生的调制信号分别送入被测电光调制器(203)、第一解调电路(210)和第二解调电路(211),测试信号发生器(208)产生的测试信号分别送入被测电光调制器(203)和第一解调电路(210),在被测电光调制器(203)内,调制信号使两光波之间产生调制相位差,测试信号使两光波之间产生测试相位差,所述两光波发生干涉后送入探测器(204),经光电转换后送至第二解调电路(211),第一解调电路(210)用于获取测试信号的大小,第二解调电路(211)用于获取测试相位差;当被测电光调制器(203)为Y波导集成光学器件时,光源(201)发出的光波经调制用电光调制器(202)后送至被测电光调制器(203),调制信号发生器(206)产生的调制信号分别送入调制用电光调制器(202)、第一解调电路(210)和第二解调电路(211),测试信号发生器(208)产生的测试信号分别送入被测电光调制器(203)和第一解调电路(210),在调制用电光调制器(202)内,调制信号使两光波之间产生调制相位差,在被测电光调制器(203)内,测试信号使两光波之间产生测试相位差,两光波干涉后送入探测器(204),经光电转换后送至第二解调电路(211),第一解调电路(210)用于获取测试信号的大小,第二解调电路(211)用于获取测试相位差。 | ||
地址 | 100071 北京市丰台区小屯路149号北 |