发明名称 |
用于监视测量仪器的对准的方法和设备以及测量仪器 |
摘要 |
用以监视测量仪器,尤其是天平(1000)的对准的方法和设备(150)。监视设备(150)装备有基于气泡水平仪原理的具有充以液体(11)的容器(10)的倾斜传感器(1),液体(11)中形成有气泡(12)。气泡(12)的位置通过辐射元件(D1)以及传感器元件(D2)而以光学方式被测量。优选是发光二极管的辐射元件(D1)和优选是光电二极管的传感器元件(D2)一起定义了传感器轴线(sx),只要传感器轴线平行于重力的轴线延伸,气泡就位于传感器轴线(sx)的。此外,至少两个参考元件(D3;D3’)位于传感器元件(D2)侧面,用以测试辐射的强度是否在允许范围之内。在监视设备(150)内自动地进行功能测试以验证其是在正常工作。 |
申请公布号 |
CN1645070B |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200410102118.1 |
申请日期 |
2004.12.13 |
申请人 |
梅特勒-托利多公开股份有限公司 |
发明人 |
汉斯鲁埃迪·金兹;罗杰·莱辛格 |
分类号 |
G01G23/01(2006.01)I;G01G23/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01G23/01(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
韩宏 |
主权项 |
一种用于通过监视设备(150)监视测量仪器的对准的方法,该监视设备(150)装备有根据气泡水平仪原理工作的倾斜传感器(1),所述倾斜传感器包括其中充有形成有气泡(12)的液体(11)的容器(10),其中所述气泡(12)的位置通过布置在所述气泡(12)的第一侧并用以发射辐射的辐射元件(D1),以及通过布置在所述气泡(12)的第二侧并用以接收所述辐射的传感器元件(D2)而以光学方式被测量,其中所述辐射元件(D1)和所述传感器元件(D2)一起定义出传感器轴线(sx),其中至少两个参考元件(D3;D3’)位于处在所述第二侧的所述传感器元件(D2)的两侧,分别在相对所述传感器元件的相反位置上,并且其中所述参考元件用于测试所述辐射的强度是否在允许范围之内,其特征在于:在所述监视设备(150)内自动执行一功能测试以验证所述监视设备(150)是在正常工作。 |
地址 |
瑞士格赖芬塞 |