| 发明名称 | 一种相变温度测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种相变温度测试系统，其结构为：加热炉的盖板上开有通光孔，加热炉内设有炉腔，样品架位于炉腔内，并位于通光孔的正下方，在通光孔的上方放置有激光器和光电探测器，光电探测器位于待测样品对激光束的反射光路上。本发明可以增设信号放大采集电路、温度控制传感电路和数据处理器。通过该系统测试灵敏度较高，能测定膜厚低至1nm的薄膜的相变温度；且可直接测量薄膜样品的相变温度，对样品无损伤；通过不同升温速率下的变温测量还可获得更多的材料热力学参数。操作简单，成本低廉，测试可靠度较高。 | ||
| 申请公布号 | CN101726506A | 申请公布日期 | 2010.06.09 |
| 申请号 | CN200910273102.X | 申请日期 | 2009.12.08 |
| 申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 缪向水;童浩;程晓敏 |
| 分类号 | G01N25/02(2006.01)I;G01N25/12(2006.01)I | 主分类号 | G01N25/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 曹葆青 |
| 主权项 | 一种相变温度测试系统，其特征在于：加热炉(2)的盖板上开有通光孔(1)，加热炉(2)内设有炉腔(3)，待测样品(4)放置于炉腔(3)内的样品架(9)上，并位于通光孔(1)的正下方，在通光孔(1)的上方放置有激光器(10)和光电探测器(11)，待测样品(4)位于激光器(10)出射光路上，光电探测器(11)位于待测样品(4)对激光束的反射光路上。 | ||
| 地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 | ||