发明名称 |
光学测量设备 |
摘要 |
一种光学测量设备,包括:光施加部分,配置为向在通道中流动的样品施加激光;以及荧光检测部分,配置为检测从用激光照射的样品产生的荧光;荧光检测部分包括:具有多个检测通道能够同时检测多个光束的多通道光电倍增管,光分离器,配置为根据波长分离荧光以提供多个光束,通过透射光栅或棱镜提供光分离器,以及远心汇聚透镜,配置为从光分离器接收多个光束,并将该多个光束导向多通道光电倍增管的多个检测通道,使得该多个光束的光轴彼此平行。 |
申请公布号 |
CN101726461A |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200910205674.4 |
申请日期 |
2009.10.16 |
申请人 |
索尼株式会社 |
发明人 |
今西慎悟;新井健雄;堂胁优 |
分类号 |
G01N21/01(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/01(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
杜诚;陈炜 |
主权项 |
一种光学测量设备,包括:光施加部分,配置为向在通道中流动的样品施加激光;荧光检测部分,配置为检测从用所述激光照射的所述样品产生的荧光;所述荧光检测部分包括:具有能够同时检测多个光束的多个检测通道的多通道光电倍增管,光分离器,配置为根据波长分离所述荧光以提供所述多个光束,通过透射光栅或棱镜提供所述光分离器,以及远心汇聚透镜,配置为从所述光分离器接收所述多个光束,并将所述多个光束导向所述多通道光电倍增管的所述多个检测通道,使得所述多个光束的光轴彼此平行。 |
地址 |
日本东京都 |