发明名称 |
一种图像细线检测的方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种图像细线检测的方法,该方法包括,在待检测区域上设置偶数尺寸边界方法检测窗口,根据窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算窗口中心点即像素点顶角边界方向;设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在窗口内计算非中心像素点相对于中心像素点的向量,计算对应每个掩蔽模板的合向量,根据合向量与对应掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数,计算中心像素点的细线边界强度;根据像素点细线边界强度和顶角边界方向检测细线。本发明还公开了一种图像细线检测的装置。本发明公开的图像细线检测方法计算简单,节省检测成本,有利于进行硬件电路的成本控制。 |
申请公布号 |
CN101727669A |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200810225210.5 |
申请日期 |
2008.10.27 |
申请人 |
北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社 |
发明人 |
袁梦尤;王宗宇;六尾敏明;李平立 |
分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种图像细线检测的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口,根据所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向,其中,所述中心点为像素点顶角;并且,在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在所述边界强度检测窗口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,根据每个向量计算每个掩蔽模板的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度;根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向,检测所述待检测区域是否为细线区域。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |