| 发明名称 | 维护辐射热测量计型检测器矩阵的方法 | ||
| 摘要 | 一种用于维护辐射热测量计型检测器阵列(1)的方法包括将某些检测器加热到阈值温度。通过向电阻性检测元件供应电流来执行所述加热，且依照先前对每一检测器进行的测量而针对所述检测器确定所述阈值温度。所述方法使得可消除由辐射过度暴露或由在其制造或老化期间出现的对某些像素的热电性质的破坏引起的延续图像。所述方法不需要使用炉或珀耳贴元件，因此避免了所述加热组件不可逆地破坏上面杂交或沉积有所述检测器的读取和CMOS寻址电路的风险。 | ||
| 申请公布号 | CN101730836A | 申请公布日期 | 2010.06.09 |
| 申请号 | CN200880018030.8 | 申请日期 | 2008.04.17 |
| 申请人 | 萨斯姆防务安全公司 | 发明人 | 休伯特·加尔代特;顾思·贝克尔;弗朗西斯·鲍里斯·德米若拉 |
| 分类号 | G01J5/20(2006.01)I;G01J5/24(2006.01)I;H04N5/217(2006.01)I;H04N5/33(2006.01)I | 主分类号 | G01J5/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人 | 张恒康 |
| 主权项 | 一种用于维护适合于测量源自辐射场景的电磁辐射的辐射热测量计型检测器阵列(1)的方法，所述方法适合于停止由所述阵列中的至少一个检测器经历的辐射过度暴露的延续，且在辐射测量序列之外该方法包括执行以下步骤：/1/测量所述阵列中的至少一个所识别检测器的电阻性元件的温度和/或电阻；/2/对于所述所识别检测器，设置阈值温度和/或阈值电阻分别大于步骤/1/中所测得的所述温度和/或小于步骤/1/中所测得的所述电阻；/3/向所述阵列中的至少一个检测器的电阻性元件供应适合于将所述所识别检测器加热至少到所述阈值温度和/或所述阈值电阻的电流；以及/4/通过渐进地减小在步骤/3/中用于加热所述所识别检测器的供应到所述电阻性元件的所述电流，冷却所述所识别检测器。 | ||
| 地址 | 法国巴黎 | ||