| 发明名称 | 一种路径延迟故障模拟方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种路径延迟故障模拟方法和装置，首先输入测试电路的电路拓扑结构以及测试电路中的可测路径延迟故障构成的故障集，并输入所述故障集中所有路径延迟故障对应的测试向量构成的测试向量集；根据所述故障集中各路径延迟故障对应的路径，构造选择路径电路；所述选择路径电路为测试电路中具有路径延迟故障的路径的等效电路；根据所述测试向量集中的各测试向量对所述测试电路进行后向故障模拟，并根据模拟得到的路径延迟故障修剪所述选择路径电路。本发明实施例提供的方案，可以在较短的时间内提供精确的路径延迟故障模拟结果，为芯片测试提供了可靠的路径延迟故障模拟方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101261308B | 申请公布日期 | 2010.06.09 |
| 申请号 | CN200810057433.5 | 申请日期 | 2008.02.01 |
| 申请人 | 清华大学 | 发明人 | 向东;赵阳 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I;H01L21/82(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 郭润湘 |
| 主权项 | 一种路径延迟故障模拟方法，其特征在于，该方法包括：A、输入测试电路的电路拓扑结构以及测试电路中的可测路径延迟故障构成的故障集，并输入所述故障集中所有路径延迟故障对应的测试向量构成的测试向量集；B、根据所述故障集中各路径延迟故障对应的路径，构造选择路径电路；所述选择路径电路为测试电路中具有路径延迟故障的路径的等效电路；C、根据所述测试向量集中的各测试向量对所述测试电路进行后向故障模拟，并根据模拟得到的路径延迟故障修剪所述选择路径电路。 | ||
| 地址 | 100084 北京市100084-82信箱 | ||