发明名称 |
光学探测装置及包含所述光学探测装置的测量系统 |
摘要 |
本发明涉及一种测量系统,其包括透镜装置、图像检索装置、定位平台、光学探测装置及信号处理装置。所述图像检索装置通过所述透镜装置检索物体的图像。所述定位平台用以调整所述透镜装置的焦距。所述光学探测装置用以探测所述物体的位置且发出第一信号。所述信号处理装置在接收且处理所述第一信号后发出第二信号至所述定位平台。借此,可实现自动对焦功能。 |
申请公布号 |
CN101726250A |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200910211939.1 |
申请日期 |
2007.09.18 |
申请人 |
财团法人金属工业研究发展中心 |
发明人 |
钟政英;曾健明;叶光明;朱志良;李佶峰;林佑整 |
分类号 |
G01B11/00(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
沈锦华 |
主权项 |
一种测量系统,其包括:透镜装置;图像检索装置,其通过所述透镜装置检索物体的图像;定位平台,其用以调整所述透镜装置的焦距;光学探测装置,其用以探测所述物体的位置且发出第一信号;及信号处理装置,其在接收且处理所述第一信号后发出第二信号至所述定位平台。 |
地址 |
中国台湾高雄市 |