发明名称 |
钨辅助热退火制备氮化镓纳米线的制备方法 |
摘要 |
本发明涉及一种采用钨辅助热退火制备氮化镓(GaN)纳米线的方法,其特征在于采用了金属钨(W)作为催化剂。在热退火制备GaN纳米线的过程中,先在GaN模板上电子束蒸发一层W薄层,然后在N 2气氛下经热退火后就形成了GaN纳米线。金属钨薄膜的引入,作用是生长GaN纳米线的催化剂,在高温下金属W会发生团聚同时下层的GaN会分解使得金属W层形成分立的多孔网状结构,从而暴露出部分的GaN膜,同时分生成的金属Ga和N原子在金属W催化剂的作用下又合成细长的GaN纳米线。这种方法简单易行,仅需要沉积或溅射一层薄薄的金属W层,适合于科学实验和批量生产时采用。 |
申请公布号 |
CN101220466B |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200710172321.X |
申请日期 |
2007.12.14 |
申请人 |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
发明人 |
林朝通;于广辉;雷本亮;王新中;王笑龙;齐鸣 |
分类号 |
C23C16/34(2006.01)I;C23C14/32(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/34(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
潘振甦 |
主权项 |
一种采用钨辅助热退火制备GaN纳米线的方法,其制备步骤是:(1)以Al2O3、SiC、Si或者GaAs为衬底,先在衬底上生长一层GaN外延层作为模板;作为模板的GaN外延层厚度为0.1微米~10微米;(2)在步骤(1)生长的GaN外延层的模板上,沉积一层金属W薄层,然后在N2或Ar气体下,于950-1050℃下退火制成GaN纳米线;所述的W薄膜的厚度在3纳米-10纳米之间。 |
地址 |
200050 上海市长宁区长宁路865号 |