发明名称 | 一种风洞用PIV示踪粒子及其制备方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种风洞用PIV示踪粒子及其制备方法,该风洞用PIV示踪粒子以淀粉或花粉颗粒材料为芯核,并在芯核的表面包覆一层0.5wt%~2wt%的有机物薄膜构成。该风洞用PIV示踪粒子的粒度为0.5μm~22μm、密度为0.5g/cm3~2.0g/cm3。制备风洞用PIV示踪粒子首先选取轻质材料,对其进行超细粉碎处理,获得粒度0.2μm~20μm的芯核颗粒,然后在其表面包覆一有机物薄膜,使其表面由亲水性表面变为疏水性表面,防止其在空气中吸附水蒸气而团聚,并提高芯核颗粒的分散性以及流动性,使其能够在空气流场中均匀分散,并具有良好的流动跟随性。该方法具有工艺简单、稳定可靠、成本低等优点,采用该方法所制备的风洞用PIV示踪粒子能够在风洞中均匀分散,具有良好的流场跟随性,性能优异且稳定。 | ||
申请公布号 | CN101718617A | 申请公布日期 | 2010.06.02 |
申请号 | CN200910237995.2 | 申请日期 | 2009.11.27 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 蔡楚江;沈志刚;吴芸;麻树林;邢玉山 |
分类号 | G01M9/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M9/02(2006.01)I |
代理机构 | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人 | 李有浩 |
主权项 | 一种风洞用PIV示踪粒子,其特征在于:该风洞用PIV示踪粒子是以淀粉或花粉颗粒材料为芯核,并在芯核的表面包覆一层有机物薄膜构成;有机物包覆量为芯核质量的0.5%~2%。 | ||
地址 | 100083 北京市海淀区学院路37号 |