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发明名称 PRÜFBARE INTEGRIERTE SCHALTUNG UND IC-PRÜFVERFAHREN
摘要
申请公布号 DE602007006031(D1) 申请公布日期 2010.06.02
申请号 DE200760006031T 申请日期 2007.09.04
申请人 NXP B.V. 发明人 RIUS VAZQUEZ, JOSEP;VILLAGRA, LUIS ELVIRA;MEIJER, RINZE I. M.
分类号 G01R31/30 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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