发明名称 基于3×3光纤耦合器的相移白光干涉测量方法
摘要 本发明涉及光纤白光干涉测量方法,特别涉及基于3×3光纤耦合器的相移白光干涉测量方法,属于光纤传感技术领域。该方法由一只2×2光纤耦合器和一只3×3光纤耦合器构成光纤M-Z干涉仪,波长扫描光注入到光纤M-Z干涉仪中。输出的三路白光干涉光谱信号幅值相等,在相位上两两相差120°。当波长扫描光从λ<sub>1</sub>扫描到λ<sub>2</sub>时,得到三路输出信号I<sub>1,</sub>I<sub>2</sub>和I<sub>3</sub>,通过计算<img file="200910249630.1_AB_0.GIF" wi="183" he="45" />或构造<img file="200910249630.1_AB_1.GIF" wi="235" he="58" />和<img file="200910249630.1_AB_2.GIF" wi="235" he="50" />两路正交的信号,再利用求导交叉相乘方法解调出δ;计算出δ后再对其进行解包裹运算解调出线性相位信息<img file="200910249630.1_AB_3.GIF" wi="23" he="22" />。再利用<img file="200910249630.1_AB_4.GIF" wi="185" he="60" />就可以计算出干涉仪的绝对光程差。本发明能够高精度、高速度、绝对测量光纤干涉仪的光程差。
申请公布号 CN101718563A 申请公布日期 2010.06.02
申请号 CN200910249630.1 申请日期 2009.12.09
申请人 北京理工大学 发明人 江毅;梁蓬娟
分类号 G01D5/353(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I 主分类号 G01D5/353(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1.)一种基于3×3光纤耦合器的相移白光干涉测量方法,其特征在于具体实现步骤如下:1)应用一只2×2耦合器和一只3×3耦合器构成光纤M-Z干涉仪;将波长扫描光入射到干涉仪,使干涉仪的输出端得到三路白光干涉光谱;2)若3×3耦合器对称,干涉仪的三路输出端互成120°,定义3×3耦合器输出的三路干涉信号为:<img file="F2009102496301C0000011.GIF" wi="629" he="94" />k=1,2,3其中,定义K=1时为1路信号,K=2时为2路信号,K=3时为3路信号,a(λ)为光源光谱轮廓引入的背景光即直流信号,b(λ)是干涉条纹的对比度,线性相位信息<img file="F2009102496301C0000012.GIF" wi="469" he="107" />式中m取值为整数,-π≤δ≤π,D是干涉仪两臂之间的光程差;3)将步骤2)中得到的三路干涉信号中的1和3两路做如下处理可得一个正弦信号<img file="F2009102496301C0000013.GIF" wi="527" he="117" />2倍的第2路信号减去1和3路信号之和后除以系数3可得到一个余弦信号<img file="F2009102496301C0000014.GIF" wi="618" he="109" />与上面所得到的g<sub>1</sub>信号相位相差90°;将g<sub>1</sub>和g<sub>2</sub>这两路正交信号相除后取反余弦可得到干涉仪的相位信息<img file="F2009102496301C0000015.GIF" wi="587" he="121" />4)步骤3)中提取出相位信息δ是通过反正切算法得到的,相位范围在<img file="F2009102496301C0000016.GIF" wi="198" he="96" />之间,不连续;为了获取连续相位信息,需要对相位进行解包裹运算,方法是:先给解调出的相位信息δ都乘以2,将其范围扩展到【-π,π】之间,再进行相位解包裹运算,然后再除以2,恢复到原始的线性相位信息<img file="F2009102496301C0000021.GIF" wi="55" he="36" />根据线性相位信息<img file="F2009102496301C0000022.GIF" wi="31" he="36" />与波长之间的微分关系<img file="F2009102496301C0000023.GIF" wi="342" he="107" />干涉仪的光程差D就可通过下式直接得到:<img file="F2009102496301C0000024.GIF" wi="800" he="98" />
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