发明名称 |
一种低密度校验码的编解码装置和方法 |
摘要 |
本发明提供一种低密度校验码编解码装置和方法,用以实现数据传输。该装置包含LDPC编码器;穿孔/重复图样生成装置,用于根据穿孔/重复序列表生成穿孔或重复图样,穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序;穿孔/重复装置,其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复;改变码率后码字的解码器,用于对改变码率后的码字进行译码。本发明能够有效地提高编解码性能,且适用于任何方法构造的LDPC码,包括规则码和非规则码,能够产生任意码率的编译码。 |
申请公布号 |
CN101227193B |
申请公布日期 |
2010.06.02 |
申请号 |
CN200810057536.1 |
申请日期 |
2008.02.02 |
申请人 |
中国科学院计算技术研究所 |
发明人 |
纪雯;陈益强 |
分类号 |
H03M13/11(2006.01)I;H04L1/00(2006.01)I |
主分类号 |
H03M13/11(2006.01)I |
代理机构 |
北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 |
代理人 |
王勇 |
主权项 |
一种低密度校验码的编码装置,其特征在于,所述装置包括:LDPC编码器,用于对信源传输的数据进行低密度校验码编码;穿孔/重复序列表计算装置,其用于根据变量节点对码字恢复的影响程度计算所述穿孔/重复序列表,其中所述穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复所述LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序;穿孔/重复图样生成装置,用于生成穿孔或重复图样,其中对于规则码,首先计算期望的码长,根据规则码的码长和期望的码长的差计算穿孔/重复数量,从而利用所述穿孔/重复序列表生成所述穿孔/重复图样,对于非规则码,根据最优度分布和所述穿孔/重复序列表生成所述穿孔/重复图样,所述最优度分布表示了每个码字在不同码率下变量节点的最优的度数分布;穿孔/重复装置,其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对所述LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复。 |
地址 |
100080 北京市海淀区中关村科学院南路6号 |