发明名称 基于远场性能指标的自适应光学系统标定装置
摘要 基于远场性能的自适应光学系统标定装置,由自适应光学系统,光斑性能指标评估器,波前记录器组成。光束首先通过传统自适应光学系统,而后汇聚于成像焦面处,光斑性能指标评估器(探测)计算焦面处光束质量并输出相应的性能指标,根据输出的性能指标控制自适应光学系统中的波前校正器进行闭环,使光斑性能指标评估器输出的性能指标达到设定的目标,最后,由波前记录器记录下达到设定目标时自适应光学系统中波前探测器的波前数据,并以记录的波前探测器波前数据为自适应光学系统闭环最终目标。以成像焦面处光斑为校正标准,可以减低波前探测器后续光路,尤其是成像透镜的设计要求,提高自适应光学的校正效果。
申请公布号 CN101718590A 申请公布日期 2010.06.02
申请号 CN200910241233.X 申请日期 2009.11.27
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 黄林海;饶长辉;姜文汉
分类号 G01J9/00(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I 主分类号 G01J9/00(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 成金玉;卢纪
主权项 1.基于远场性能指标的自适应光学系统标定装置,其特征在于包括:波前校正器(1)、波前探测器(2)、半反镜(3)、成像透镜(4)、CCD探测器(5)、光斑性能指标评估器(6)和波前记录器(7);标定光束经波前校正器(1)后,由半反镜(3)分成两路光,一路进入波前探测器(2),另一路经成像透镜(4)会聚于CCD探测器(5),光斑性能指标评估器(6)接收CCD探测器(5)输出结果,计算出光斑的性能参数经过波前记录器(7)记录后对波前校正器(1)进行闭环控制,使最终光斑性能指标评估器(6)计算得到的性能参数到达预定的最优值,所述的性能参数为平均半径MR、或斯特列比SR、或光强平方和EE指标,<img file="F200910241233XC0000011.GIF" wi="512" he="229" /><img file="F200910241233XC0000012.GIF" wi="385" he="61" /><img file="F200910241233XC0000013.GIF" wi="381" he="116" />其中<img file="F200910241233XC0000014.GIF" wi="86" he="48" />为CCD探测的光斑光强分布,<img file="F200910241233XC0000015.GIF" wi="83" he="58" />为坐标原点处的光强值,<img file="F200910241233XC0000016.GIF" wi="115" he="61" />为当入射光束不含像差时,坐标原点的光强值,D为有效探测口径,<img file="F200910241233XC0000017.GIF" wi="110" he="107" />为对区域D的二次积分<img file="F200910241233XC0000018.GIF" wi="26" he="40" />是坐标矢量,<img file="F200910241233XC0000019.GIF" wi="38" he="51" />是光斑质心坐标;闭环结束后波前记录器(7)记录此时自适应光学系统中的波前探测器(2)探测到的波前数据作为实时闭环目标。
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
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