发明名称 一种印制电路镀金层孔隙率测定方法
摘要 本发明提供一种印制电路板镀金层孔隙率的检验方法,属于化工技术领域,涉及印制电路板表面镀金层的检测,尤其适用于印制板导线及金手指镀金层的孔隙率检测。测试溶液主要成分为的盐酸(HCl)、氯化钠(NaCl)及渗透剂,在一定温度、时间条件下使镀金层不连续处产生明显的腐蚀产物,利用带刻度的透明网格材料和斜面体辅助观测,对孔隙大小进行加权处理,在显微镜下观察计算孔隙率。本发明具有快速、简便、准确、安全的特点,可满足印制电路板生产过程中的表面品质检测要求。
申请公布号 CN101256134B 申请公布日期 2010.06.02
申请号 CN200810044226.6 申请日期 2008.04.17
申请人 电子科技大学;珠海元盛电子科技股份有限公司;信息产业部电子第五研究所 发明人 何为;赵丽;王守绪;何波;;林均秀;徐玉珊
分类号 G01N15/08(2006.01)I 主分类号 G01N15/08(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种印制电路镀金层孔隙率测定方法,其特征是,包括以下步骤:步骤1.配制检测溶液:配制由HCl、NaCl、渗透剂混合而成的水溶液,各组分质量百分含量为:HCl:2%~2.7%,NaCl:0.5~2.0%,渗透剂:0.02%~0.2%,其余为H2O;其中渗透剂是含有如下一种或一种以上表面活性剂的复配剂:脂肪醇聚氧乙烯(5~6)醚、脂肪酸聚氧乙烯醚、烷基萘磺酸钠、二丁基萘磺酸钠和丁基萘磺酸钠;步骤2.清洗待测样品表面可能存在的油污,待测样品需有裸露的镀层,镀层为金手指、接地铜皮或焊盘;步骤3.将经表面除油处理后的待测样品放入检测溶液中,控制溶液温度在21℃-24℃,静置5~8分钟后,取出待测样品并除去待测样品表面的水分;步骤4.将待测样品放置于倾角tanα为0.15~0.25之间的斜面上,采用低倍光学显微镜观测杆品表面的孔隙;总观测区域不小于样品总镀层面积的50%;步骤5.计算孔隙率:表-1孔隙大小计算方法 孔隙尺寸 计算孔隙个数 最大直径≤0.05mm 0 0.05mm<最大直径<0.1mm 1 0.1mm≤最大直径<0.2mm 2 最大直径≥0.2mm 5数出步骤4中所观测面积内的孔隙数,计算孔隙率,即孔隙数/厘米2;孔隙计算按照表-1进行。
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