发明名称 |
Aufbau und Verfahren zum Ausbilden eines Trench-Fet mit abgeschirmtem Gate mit einem Zwischenelektroden-Dielektrikum mit einem Low-K-Dielektrikum darin |
摘要 |
Ein Trench-Feldeffekttransistor (Trench-FET) mit abgeschirmtem Gate umfasst Gräben, die sich in ein Halbleitergebiet erstrecken. In einem Bodenabschnitt jedes Grabens ist eine Abschirmelektrode angeordnet. Die Abschirmelektrode ist von dem Halbleitergebiet durch ein Abschirmdielektrikum isoliert. In jedem Graben ist über der Abschirmelektrode eine Gate-Elektrode angeordnet, und ein Zwischenelektrodendielektrikum (IED), das ein Low-k-Dielektrikum umfasst, erstreckt sich zwischen der Abschirmelektrode und der Gate-Elektrode.
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申请公布号 |
DE102009031657(A1) |
申请公布日期 |
2010.06.02 |
申请号 |
DE200910031657 |
申请日期 |
2009.07.03 |
申请人 |
FAIRCHILD SEMICONDUCTOR CORP. |
发明人 |
PAN, JAMES;MURPHY, JAMES J. |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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