发明名称 测试装置以及选择装置
摘要 本发明提供一种对包括多个区块与修复用资料栏的被测试记忆体进行测试的测试装置,该测试装置包括:测试部;旗标记忆体,储存表示各资料栏的好坏的旗标;计数记忆体,储存各资料栏的不良区块数;失效写入部,以满足如下两种情况的任1个为条件,将表示不良的旗标写入旗标记忆体,上述两种情况是指测试结果为不良、以及所对应的资料栏的旗标记忆体内的旗标表示不良;计数部,以如下情况为条件,增加所对应的资料栏的计数记忆体的区块数,上述条件是指测试结果为不良、且表示不良的旗标并未储存于所对应的资料栏的旗标记忆体内;以及选择部,根据各资料栏的不良区块数,来选择应替换为修复用资料栏的资料栏。
申请公布号 TWI325593 申请公布日期 2010.06.01
申请号 TW096101559 申请日期 2007.01.16
申请人 爱德万测试股份有限公司 发明人 土井优
分类号 G11C29/48 主分类号 G11C29/48
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项 一种测试装置,其对被测试记忆体进行测试,上述被测试记忆体包括:多个区块,各自具有多个资料栏;以及修复用资料栏,以可一并替换上述多个区块中同一资料栏位置的所有资料栏的方式设置,上述测试装置包括:测试部,以区块为单位,对上述被测试记忆体进行测试,并输出测试对象区块的各资料栏的好坏;旗标记忆体,对应于上述测试对象区块所具有的上述多个资料栏中的每一个,储存表示该区块的该资料栏的好坏之旗标;计数记忆体,对应于上述多个资料栏中的每一个,储存在该资料栏的资料栏位置具有不良的区块的数量;失效写入部,自上述测试部接收上述测试对象区块内的测试对象资料栏的测试结果,并以满足如下两种情况的至少1个为条件,将表示该资料栏为不良的上述旗标写入上述旗标记忆体,上述两种情况是指上述测试结果为不良、以及对应于该资料栏而储存于上述旗标记忆体内的上述旗标表示不良;计数部,自上述测试部接收上述测试对象资料栏的测试结果,并以如下情况为条件,增加对应于该资料栏而储存于上述计数记忆体的区块数,上述情况是指上述测试结果为不良、且对应于该资料栏的上述旗标记忆体内未储存表示不良的上述旗标;以及选择部,根据储存于上述计数记忆体的各资料栏的不良区块数,来选择应替换为上述修复用资料栏的资料栏。
地址 日本