发明名称 非易失性半导体存储器
摘要 存储单元阵列,具有由1个存储单元和夹着其的2个选择晶体管构成的单元。在1个区上,由连接在1条控制栅线CGL上的存储单元构成1页。在位线BLi上,连接具有闩锁功能的读出放大器。首先,将1页份的存储单元的数据读出到读出放大器,在读出放大器中改写数据,在进行页消除之后,将读出放大器的数据编程在1页份的存储单元上。通过在读出放大器中改写数据,就可以进行页单位或者字节单位的数据改写。
申请公布号 CN1529319B 申请公布日期 2010.05.26
申请号 CN200310101037.5 申请日期 1999.09.10
申请人 株式会社东芝 发明人 作井康司;宫本顺一
分类号 G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G11C16/06(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 王永刚
主权项 一种非易失性半导体存储器,包括:存储单元阵列(11),由被配置成矩阵形的多个存储单元组构成;主控制栅线(CGLi),在上述存储单元阵列上沿着行方向延伸;主控制栅驱动器(12c);被配置在上述主控制栅线的一端;辅助控制栅线(CGLi-0,CGLi-1,…CGLi-3),被连接在被配置在上述行方向上的该存储单元组内的1页份的存储单元中的多个存储单元上;辅助译码器(29),译码地址信号,输出控制信号;以及辅助控制栅驱动器(28),被配置在上述主控制栅线和上述辅助控制栅线之间,由MOS晶体管(36-0、36-1、…36-3)构成,在上述MOS晶体管(36-0、36-1、…36-3)的栅上输入上述控制信号。
地址 日本神奈川县