发明名称 |
接收数字信号的处理器和判断所接收数字信号的质量的方法 |
摘要 |
一种接收处理器被配置为具有正常(操作)路径和测试路径。与正常路径并行地配置测试路径。作为输入,测试路径模拟和接收与正常路径相同的数据,但测试路径具有施加于测试输入缓冲器的独立的电压基准(Vret_test)。也把输入于正常缓冲器的相同数据输入于测试缓冲器。把测试缓冲器的输出输入于测试锁存器。提供于测试锁存器的定时(clocking)信号是可变的定时信号,其使时钟信号能够有选择地加以偏移。把测试锁存器的输出与正常锁存器的输出进行比较,两个输出信号之间的差定义了具体电压/时钟偏移组合的误差。 |
申请公布号 |
CN1987805B |
申请公布日期 |
2010.05.26 |
申请号 |
CN200610143400.3 |
申请日期 |
2006.11.08 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
艾尔弗雷多·奥尔德雷吉亚;马库斯·A·贝克;贾斯廷·P·班德霍尔兹;杰弗里·B·威廉斯 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I;H04L12/26(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
黄小临;王志森 |
主权项 |
一种配置成接收数字信号的处理器,包括:正常路径,用于接收数据输入信号,并且输出将由所述处理器加以处理的正常数据输出信号;以及测试路径,用于接收所述数据输入信号,并且输出测试数据输出信号,所述测试路径用于测试所述数据输入信号的信号质量,而不会影响所述正常数据输出信号,其中,所述测试路径包括:测试输入锁存器,用于接收所述数据输入信号,并且输出所述测试数据输出信号;以及输入于所述测试输入锁存器的可变测试基准电压,其中,改变所述测试基准电压影响所述测试数据输出信号的值。 |
地址 |
美国纽约阿芒克 |