电路测试装置

摘要

本发明揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一逻辑测试机以及一信号量测模块。逻辑测试机耦接于该待测试元件，用来提供一测试信号及一触发信号，并依据一数字量测结果来决定该待测试元件的测试结果。信号量测模块耦接于该待测试元件以及该逻辑测试机，于接收该触发信号后，量测该待测试元件依据该测试信号所产生的一直流信号，产生该数字量测结果。本发明所述的电路测试装置可以有效的节省测试所需的时间，更可以提升测试效率。

主权项

一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件，该电路测试装置包含有：一逻辑测试机，耦接于该待测试元件，用来提供一测试信号及一触发信号，并依据一数字量测结果来决定该待测试元件的测试结果；以及一信号量测模块，耦接于该待测试元件以及该逻辑测试机，于接收该触发信号后，量测该待测试元件依据该测试信号所产生的一直流信号，产生该数字量测结果。