发明名称 |
延迟闭锁回路装置 |
摘要 |
一种在半导体存储装置中用于检测延迟闭锁回路时钟的闭锁信息的装置,包括:延迟闭锁回路,产生第一比较信号和第一延迟结束信号;相位状态储存模块,接收该第一比较信号和该第一延迟结束信号,以产生闭锁选择信号;以及闭锁信息检测器,响应于该第一比较信号、该第一延迟结束信号以及该闭锁选择信号而产生表示该闭锁信息的闭锁状态信号。 |
申请公布号 |
CN1694181B |
申请公布日期 |
2010.05.26 |
申请号 |
CN200410088680.3 |
申请日期 |
2004.11.15 |
申请人 |
海力士半导体有限公司 |
发明人 |
郭钟太 |
分类号 |
G11C11/4063(2006.01)I;H03L7/08(2006.01)I |
主分类号 |
G11C11/4063(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王萍;陈炜 |
主权项 |
一种用于在半导体存储装置中检测延迟闭锁回路时钟的闭锁信息的装置,包括:延迟闭锁回路,用于通过将所述延迟闭锁回路的反馈信号的相位与内部时钟信号的相位进行比较来产生第一比较信号,并响应于该第一比较信号而产生第一延迟结束信号:相位状态储存装置,用于从所述延迟闭锁回路接收该第一比较信号和该第一延迟结束信号,以响应于该第一比较信号和该第一延迟结束信号而产生闭锁选择信号;以及闭锁信息检测器,用于响应于该第一比较信号、该第一延迟结束信号以及该闭锁选择信号而产生表示该闭锁信息的闭锁状态信号,其中该相位状态储存装置包括:切换模块,响应于该第一延迟结束信号而传送该第一比较信号;以及闩锁模块,闩锁被传送的该第一比较信号以产生该闭锁选择信号,以及该闭锁信息检测器包括:第一检测器,检测将该第一比较信号的逻辑高状态改变成该第一比较信号的逻辑低状态的第一时序,并产生第一检测信号;第二检测器,检测将该第一比较信号的该逻辑低状态改变成该第一比较信号的该逻辑高状态的第二时序,并产生第二检测信号;以及输出模块,接收该第一及该第二检测信号并产生该闭锁状态信号。 |
地址 |
韩国京畿道 |