发明名称 一种分流式真空漏孔校准的装置及方法
摘要 本发明的一种分流式真空漏孔校准的装置及方法,特别是采用分流技术实现漏率值小于1×10-8Pa.m3/s的真空漏孔校准的装置及方法,属于测量技术领域。该装置由被校漏孔、阀门、电离规、小孔、分流室、非蒸散型吸气剂泵、极高真空校准室、限流孔、极高真空抽气室、无油双涡轮分子泵抽气机组、四极质谱计、流量计、超高真空校准室、限流孔、超高真空抽气室、普通分子泵抽气机组组成。该方法采用固定流导法气体微流量计提供已知气体流量,流量测量范围宽,测量不确定度小;采用流量分流法校准真空漏孔,完全避免了四极质谱计的非线性误差,使得漏率值小于1×10-8Pa.m3/s的真空漏孔能够精确校准。
申请公布号 CN101713696A 申请公布日期 2010.05.26
申请号 CN200910259319.5 申请日期 2009.12.17
申请人 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 发明人 李得天;成永军;郭美如
分类号 G01M3/26(2006.01)I;G01M3/20(2006.01)I 主分类号 G01M3/26(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 张利萍
主权项 一种分流式真空漏孔校准的装置,其特征在于:该装置由被校漏孔(1)、阀门(2)、电离规(3)、阀门(4)、小孔(5)、分流室(6)、阀门(7)、阀门(8)、小孔(9)、阀门(10)、超高真空校准室(11)、限流孔(12)、阀门(13)、非蒸散型吸气剂泵(14)、非蒸散型吸气剂泵(15)、阀门(16)、极高真空抽气室(17)、无油双涡轮分子泵抽气机组(18)、限流孔(19)、极高真空校准室(20)、四极质谱计(21)、流量计(22)、普通分子泵抽气机组(23)和超高真空抽气室(24)组成;其连接关系为:被校漏孔(1)通过阀门(2)与极高真空校准室(20)连接,电离规(3)和四极质谱计(21)直接连接在极高真空校准室(20)上,无油双涡轮分子泵抽气机组(18)与极高真空抽气室(17)相连并从中抽出气体,极高真空抽气室(17)与极高真空校准室(20)连在一起,中间有一个限流孔(19),非蒸散型吸气剂泵(14)和非蒸散型吸气剂泵(15)通过阀门(13)和阀门(16)分别与极高真空校准室(20)、极高真空抽气室(17)相连并从中抽出气体,普通分子泵抽气机组(23)与超高真空抽气室(24)相连并从中抽出气体,超高真空抽气室(24)与超高真空校准室(11)连在一起,中间有一个限流孔(12),超高真空校准室(11)通过阀门(10)与分流室(6)相连,气体微流量计(22)通过阀门(7)与分流室(6)相连,分流室(6)中的校准气体分别通过小孔(5)、阀门(4)、阀门(8)、小孔(9)进入极高真空校准室(20)、超高真空校准室(11)。
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