X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法

摘要

本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法，所述测定方法包括制样、制作硫元素对应的校准曲线、测量无碱玻璃配合料样片中硫元素的X射线荧光强度并计算出无碱玻璃配合料中SO3含量等步骤，其中制样采用如下方法：称取相同质量的无碱玻璃配合料标准品和样品，分别放入振动磨的磨盘中，磨制50～70秒时间，磨制完成后，用硼酸镶边衬底，在压片机上设置2.0～3.5吨的压力，压制时间为15～25秒，制成无碱玻璃配合料标准样片和样片。本发明采用压片法制样，可以有效地抑制样品中硫的挥发，测量准确度、精密度较好，能够满足实际生产控制的需要，达到常规化学分析法测量精度；并且检测时间短，大大提高了工作效率。

主权项

一种X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法，所述无碱玻璃配合料中含有SO3，所述无碱玻璃配合料中SO3含量的测定方法包括下列步骤：(1)将无碱玻璃样品配合料标准品或无碱玻璃配合料样品制样，得到相应的无碱玻璃配合料标准样片或无碱玻璃配合料样片；(2)制作硫元素对应的校准曲线；(3)测量无碱玻璃配合料样片中硫元素的X射线荧光强度，并根据校准曲线计算出无碱玻璃配合料样品中SO3含量；其特征在于所述的制样按照如下步骤进行：称取相同质量的无碱玻璃配合料标准品或无碱玻璃配合料样品，分别放入振动磨的磨盘中，磨制50～70秒时间，磨制完成后，用硼酸镶边衬底，在压片机上设置2.0～3.5吨的压力，压制时间为15～25秒，制成相应的无碱玻璃配合料标准样片或无碱玻璃配合料样片。