发明名称 热控制装置中的过热侦测
摘要 本发明提供多个过热侦测的系统与方法,用以在含有一处理器的一晶粒上,基于该处理器的一内部温度与一控制温度临界值产生一控制讯号。其可以基于该控制讯号的一行为判定是否在该晶粒上产生一警示温度事件。在一实施例中,该警示温度事件提供一自动资料储存处理的初始化,其减低知警示温度关机的意外。其他实施例提供使用者在一关机温度临界值达到之前,储存其工作的选项。
申请公布号 TWI325108 申请公布日期 2010.05.21
申请号 TW094124360 申请日期 2005.07.19
申请人 英特尔股份有限公司 发明人 艾法兰 罗登
分类号 G06F11/30;G06F1/20 主分类号 G06F11/30
代理机构 代理人 林志刚
主权项 一种用于过热侦测的方法,包含:藉由一比较器从一温度量测装置接收代表一处理器的一内部温度的一连续类比讯号,该比较器和该温度量测装置系配置在具有该处理器的一半导体晶粒上;比较该连续类比讯号和一控制温度临界值;基于该比较而产生具有一工作周期的一控制讯号;基于该工作周期而追踪该控制讯号的一作用位准;以及当该控制讯号的该作用位准达到一警示临界值时,产生一警示温度事件。
地址 美国