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L'invention concerne selon un premier aspect un procédé de calibration d'une matrice de détection utilisée pour acquérir une image d'un interférogramme, comprenant les étapes selon lesquelles : - on élabore un premier interférogramme et au moins deux interférogrammes décalés, le premier interférogramme étant élaboré en créant un nombre fini de différences de marche, et les interférogrammes décalés étant élaborés, pour chacun d'entre eux, par décalage de chacune des différences de marche du premier interférogramme, de telle sorte qu'on dispose pour chaque différence de marche d'au moins trois échantillons placés sur une portion de sinusoïde; - on détermine par interpolation pour chaque portion de sinusoïde une fonction coïncidant avec la portion de sinusoïde; - on détermine un coefficient de calibration pour une différence de marche à partir de la fonction coïncidant avec la portion de sinusoïde correspondant à cette différence de marche. L'invention s'étend également à un instrument calibré conformément au procédé selon son premier aspect.
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