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Bei der Kühlanordnung zur Kühlung von Komponenten eines elektronischen Geräts mittels eines von einem Ionen-Kühlsystem (7) erzeugten Luftstroms (8), weist eine Systemkomponente (3, 6) oder ein Dummy-Bauteil (10), das in seiner Form wie eine Systemkomponente gestaltet ist, wenigstens eine leitende Fläche auf, die im Luftstrom (8) angeordnet ist. Es ist eine Überwachungseinrichtung (9) vorhanden, die dazu eingerichtet ist, eine durch das Ionen-Kühlsystem (7) hervorgerufene Ionisierung des Luftstroms (8) mittels der wenigstens einen leitenden Fläche der Systemkomponente (3, 6) oder des Dummy-Bauteils (10) zu bestimmen.
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