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发明名称
System for testing forward current and peak inverse voltage characteristics of semiconductor power translation devices
摘要
申请公布号
US3134944(A)
申请公布日期
1964.05.26
申请号
US19600045013
申请日期
1960.07.25
申请人
THE DAVEN COMPANY
发明人
NEWMAN RICHARD J.
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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