发明名称 小尺寸接触孔双极型制造工艺
摘要 本发明揭示了一种1.5μm双极型Bipolar工艺,工艺流程包括在P衬底上进行N型埋层、P型埋层、做外延、OD、隔离、深磷、定义基区、做电阻层、浓硼、发射区、电容、开孔、第一层铝布线、通孔、第二层铝布线、做钝化层的步骤,其特征在于:采用薄外延层;自对准技术;1.5μm的最小孔。采用本发明的技术方案,采用本发明所揭示的1.5μm自对准双层布线15V双极型工艺,解决了1.5μm引线孔开孔,NPN的饱和压降偏高,通孔接触电阻大和衬底PNP管的CE击穿电压偏低等难题从而满足客户对一种中压、高频且芯片面积很小的高性能集成电路的需求。
申请公布号 CN101211843B 申请公布日期 2010.05.19
申请号 CN200610148724.6 申请日期 2006.12.30
申请人 上海先进半导体制造股份有限公司 发明人 詹佳文
分类号 H01L21/8222(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/8222(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆嘉
主权项 一种小尺寸接触孔双极型制造工艺,包括以下步骤:在P型衬底上制造N型埋层;在P型衬底上制造P型埋层;在P型衬底上外延生长,生成N型外延层;在N型外延层上制作氧化层;光刻、带胶注入硼离子、去胶;在N型外延层上制作深P阱,深P阱由所述的带胶注入硼离子而形成;在N型外延层上深磷注入,形成接触到N型埋层的DN阱;在N型埋层上方的N型外延层上制作基区SP;在N型外延层上制作电阻层;在深P阱上浓硼注入,形成浓硼区DB;在基区SP上制作发射区SN;进行光刻和氮化硅沉积;在浓硼区DB和发射区SN上开孔,以形成接触孔;在所开的孔上进行第一层铝布线;在第一层铝布线上制造通孔;在通孔上进行第二层铝布线;制作钝化层;其特征在于,所述接触孔尺寸为1.5微米×1.5微米,发射结的结深是0.3微米;所有的杂质注入都用厚氧化层作阻挡以实现自对准并且采用SOG平坦化工艺。
地址 200233 上海市虹漕路385号