发明名称 |
测量涂覆量的方法和预测溶出行为的方法 |
摘要 |
使用近红外光谱的评测方法通常具有低的特异性,并特别在痕量成分的评测中遇到困难。通过近红外光谱法精确测量涂覆物的量一直是困难的。为解决此问题,根据涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射测量施用到涂覆对象(例如颗粒或未涂覆片剂)上的涂覆物的量。优选使用聚乙二醇或含长链烃基的化合物作为该添加剂。 |
申请公布号 |
CN101107510B |
申请公布日期 |
2010.05.19 |
申请号 |
CN200680002747.4 |
申请日期 |
2006.02.02 |
申请人 |
卫材R&D管理有限公司 |
发明人 |
横山诚;鹈饲宏治 |
分类号 |
G01N21/35(2006.01)I;A61K9/36(2006.01)I;A61K47/10(2006.01)I;A61K47/12(2006.01)I;A61K47/14(2006.01)I;A61K47/34(2006.01)I;A61K47/38(2006.01)I;G01N33/15(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/35(2006.01)I |
代理机构 |
北京市中咨律师事务所 11247 |
代理人 |
林柏楠;刘金辉 |
主权项 |
测量施用到涂覆对象上的涂覆物的量的方法,包括利用涂在涂覆对象上的涂覆液中的添加剂测量800至1100纳米波长范围的光的吸收或散射,以获得测量值,其中所述涂在涂覆对象上的涂覆液中的添加剂包含至少一种选自由聚乙二醇和含长链烃基的化合物组成的组的化合物,其中所述涂覆对象是药品,所述含长链烃基的化合物是含有具有至少6个碳的饱和或不饱和烃链的高级醇、脂肪酸酯和脂肪酸盐。 |
地址 |
日本东京都 |