发明名称 一种沟槽式同位素微电池上电极的制作方法
摘要 本发明一种沟槽式同位素微电池上电极的制作方法,属于微机械电子系统中的微能源领域。采用SU8胶剥离工艺制作沟槽式同位素微电池的上电极,采用P型硅为衬底;在P型硅表面热氧化SiO2掩膜层;用掩膜版光刻,按设计要求湿法刻蚀掉沟槽区的SiO2形成湿法刻蚀硅的窗口;用KOH湿法刻蚀出倒金字塔和V型槽阵列;制作P+-P背电场;正面掺杂磷,形成N-P结;旋涂SU8胶,用掩膜版光刻,形成掺杂N+区的窗口;二次掺杂磷,形成N+-N结;旋涂BP212正胶,作为去除SU8胶的牺牲层;旋涂SU8胶,用掩膜版光刻,形成溅射上电极的窗口;溅射金属,剥离掉金属电极外的多余金属,形成同位素电池的上电极。采用该方法制作沟槽式同位素微电池的上电极,操作简单、无污染、可重复性好。
申请公布号 CN101174484B 申请公布日期 2010.05.19
申请号 CN200710012855.6 申请日期 2007.09.14
申请人 大连理工大学 发明人 褚金奎;朴相镐;王培超
分类号 G21H1/00(2006.01)I 主分类号 G21H1/00(2006.01)I
代理机构 大连理工大学专利中心 21200 代理人 关慧贞
主权项 一种沟槽式同位素微电池上电极的制作方法,使用SU8胶剥离工艺的方法来制作同位素电池的上电极,其制作方法的特征是,使用BP212正胶作为牺牲层,避免了SU8胶与硅片的直接接触,从而有效地去除了交联后沟槽内的SU8胶,制作出了完整的上电极,具体步骤为:第一步采用掺杂浓度为1014/cm3~1017/cm3晶向为<100>的P型硅为衬底;第二步在P型硅表面热氧化2μm SiO2掩膜层;第三步用掩膜版光刻,按设计要求湿法刻蚀掉沟槽区的SiO2形成湿法刻蚀硅的窗口;第四步用KOH湿法刻蚀出倒金字塔和V型槽阵列;第五步除去SiO2掩膜层,背面掺杂硼,形成结深为1μm,P+区浓度为1015/cm3~1018/cm3的P+-P背电场;第六步正面掺杂磷,形成结深为1μm,N区浓度为1019/cm3或1020/cm3的N-P结;第七步旋涂SU8胶,用掩膜版光刻,形成掺杂N+区的窗口;第八步二次掺杂磷,形成结深为2μm,N+区浓度为1020/cm3或1021/cm3的N+-N结;第九步旋涂BP212正胶,作为去除SU8胶的牺牲层;第十步旋涂SU8胶,用掩膜版光刻,形成溅射上电极的窗口;第十一步溅射金属,然后剥离掉金属电极外的多余金属,形成同位素微电池的上电极。
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