发明名称 |
一种近红外光谱分析装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种近红外光谱分析装置,包括光源模块、探测器模块和分析模块;分析装置还包括,一用于监控被测样品温度的第一测温模块;一用于监控工作环境温度的第二测温模块;一内部存储有选择准则的选择模块,所述选择准则用于根据测得的工作环境温度,在建模温度中选择一个温度作为拟使用的温度;一判断测得的工作环境温度是否处于建模温度处的判断模块;一用于将被测样品温度调整到拟使用的温度处的温控模块;所述第二测温模块的输出端连接选择模块和判断模块,选择模块和判断模块的结果送所述分析模块。本实用新型具有能耗低、耗时短等优点,可广泛应用在近红外光谱分析中。 |
申请公布号 |
CN201477042U |
申请公布日期 |
2010.05.19 |
申请号 |
CN200920193120.2 |
申请日期 |
2009.08.20 |
申请人 |
聚光科技(杭州)股份有限公司 |
发明人 |
王健;叶华俊;冯红年;陈英斌 |
分类号 |
G01N21/35(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/35(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种近红外光谱分析装置,包括光源模块、探测器模块和分析模块;其特征在于:分析装置还包括,一用于监控被测样品温度的第一测温模块;一用于监控工作环境温度的第二测温模块;一内部存储有选择准则的选择模块,所述选择准则用于根据测得的工作环境温度,在建模温度中选择一个温度作为拟使用的温度;一判断测得的工作环境温度是否处于建模温度处的判断模块;一用于将被测样品温度调整到拟使用的温度处的温控模块;所述第二测温模块的输出端连接选择模块和判断模块,选择模块和判断模块的结果送所述分析模块。 |
地址 |
310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号 |