| 发明名称 |
X-ray inspection system and method of operating |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1463085(A3) |
申请公布日期 |
2010.05.19 |
| 申请号 |
EP20040251830 |
申请日期 |
2004.03.26 |
| 申请人 |
GENERAL ELECTRIC COMPANY |
发明人 |
BIRDWELL, THOMAS WILLIAM;HOPKINS, FORREST FRANK |
| 分类号 |
G01N23/04;H01J35/24;G21K5/02;H01J35/30 |
主分类号 |
G01N23/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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