发明名称 一种测定三维多孔膜电极电活性面积的方法
摘要 一种测定三维多孔膜电极电活性面积的方法是采用三电极体系和恒电位仪,以三维多孔电极或沉积有过渡金属铁氰化物半导体薄膜的三维多孔膜电极为工作电极,分别在含铁氰化钾和不含铁氰化钾的钾盐或钠盐溶液中测定不同扫描速度下的循环伏安曲线,利用膜电极在不同溶液体系中氧化还原反应的可逆特性测定其电活性面积和覆盖度;同时结合计时库仑法获得三维多孔膜电极内膜的活性体积和平均膜厚。本发明方法简单可靠、实用性强。
申请公布号 CN101710058A 申请公布日期 2010.05.19
申请号 CN200910175271.X 申请日期 2009.11.24
申请人 太原理工大学 发明人 郝晓刚;王忠德;杨言言;张忠林;刘世斌
分类号 G01N15/08(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I 主分类号 G01N15/08(2006.01)I
代理机构 山西太原科卫专利事务所 14100 代理人 戎文华
主权项 一种测定三维多孔膜电极电活性面积的方法,该方法采用恒电位仪和三电极体系,以三维多孔电极或沉积有过渡金属铁氰化物半导体薄膜的三维多孔膜电极为工作电极,Pt片或Pt网为对电极,分别在含1~10m mol·L-1铁氰化钾浓度范围为0.5~1.0mol·L-1硫酸钠支持电解质溶液和0.1~1.0mol·L-1的含钾离子或钠离子的电解液中测定不同扫描速度下的循环伏安曲线,并通过计时库仑法在0.1~1.0mol·L-1的含钾离子或钠离子的电解液中测定其离子交换电量。
地址 030024 山西省太原市迎泽西大街79号