发明名称 |
Transistor mit einem Metallgatestapel mit großem epsilon und einem kompressiv verspannten Kanal |
摘要 |
In einem Fertigungsablauf zur Anpassung der Bandlücke des Halbleitermaterials in Bezug auf die Austrittsarbeit eines metallenthaltenden Gateelektrodenmaterials wird auch ein verformungsinduzierendes Material abgeschieden, um damit eine zusätzliche Verformungskomponente in dem Kanalgebiet zu schaffen. Beispielsweise wird ein Schichtstapel mit Silizium/Kohlenstoff, Silizium und Silizium/Germanium verwendet, um die gewünschte Schwellwertspannung für ein Metallgate zu erhalten, wobei auch eine kompressive Verformung in dem Kanalgebiet erzeugt wird.
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申请公布号 |
DE102008049717(A1) |
申请公布日期 |
2010.05.06 |
申请号 |
DE20081049717 |
申请日期 |
2008.09.30 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG |
发明人 |
GRIEBENOW, UWE;HOENTSCHEL, JAN;FROHBERG, KAI |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/8238;H01L27/092;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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