表征样本材料的谱辐射特性的方法

摘要

公开一种用于询问呈现分子转动的样本的方法和设备。在实践该方法中，把样本放在带有磁和电磁屏蔽的容器中并且把高斯噪声注入到该样本中。检测由叠加在该注入的高斯噪声上的样本源辐射构成的电磁时域信号，并且利用该信号生成谱曲线，该谱曲线显示该高斯噪声源的选定功率设定下该样本在DC和50千赫之间的选定频率范围中的低频谱分量特性。在一实施例中，该生成的谱曲线是该选定的频率范围上的随机谐振事件直方图。从该谱上识别一个或多个表征该被询问样本的低频信号分量。

主权项

一种在选定的频率范围R上表征样本材料的谱辐射特性的方法，包括：(i)从时域信号选择S/n个采样并对这些采样进行实快速傅里叶变换RFFT以产生一个RFFT信号，其中F是对该时域信号采样的采样速率，F×T是总采样计数S，F大于按采样速率F采样的时域信号的RFFT的频域分辨率f，并且S＞f×n，其中n至少为10；(ii)标称化该RFFT信号并计算该RFFT信号的平均功率；(iii)在f个选定的频率事件仓的每个仓中置入事件计数，其中在对应的选定频率的测量功率大于平均功率乘以ε，其中0＜ε＜1并且ε选择成使置入在一个事件仓中的总计数量在该仓的最大可能仓计数的20％-50％之间；(iv)重复步骤(i)到(iii)；以及(v)产生对每个事件仓示出在选定频率范围每个仓中的事件计数数量的显示。