发明名称 电子元件输出波形的测定装置、测定方法、及试验装置
摘要 本发明提供一种测定装置,以同步于输出信号而产生第一触发信号与第二触发信号,每次在电子元件使输出信号以复数次输出时,使触发信号的相位加以顺次变化,且使输出信号的信号准位在触发信号的各相位加以复数次取得。对于第一触发信号的输出信号的信号准位为H准位的次数,以每次在第一触发信号的相位加以计数;对于第二触发信号的输出信号的信号准位为L准位的次数,以每次在第二触发信号的相位加以计数。基于所计数的次数,加以算出输出信号波形的变化点,起伏变动量、及起伏变动分布。并可以一次试验而测定输出信号波形的变化点、起伏变动量、及起伏变动分布。
申请公布号 CN1997903B 申请公布日期 2010.05.05
申请号 CN200580004113.8 申请日期 2005.02.02
申请人 爱德万测试株式会社 发明人 山根知之;新岛启克
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁
主权项 一种测定装置,其特征在于,是加以测定一电子元件所输出的一输出信号波形的测定装置,包括:一触发生成部,是以同步于该输出信号而生成一第一触发信号,及与该第一触发信号相位为相异的一第二触发信号;一触发位移部,每次在该电子元件使该输出信号以复数次输出时,使该第一触发信号的相位、及该第二触发信号的相位加以顺次变化;一第一时序比较部,在该第一触发信号的各相位以该些复数次取得该输出信号的信号准位;一第二时序比较部,在该第二触发信号的各相位以该些复数次取得该输出信号的信号准位,;一第一计数器,将该第一时序比较部所取得的各该输出信号的信号准位为H准位的次数,在每个该第一触发信号的相位加以计数;一第二计数器,将该第二时序比较部所取得的各该输出信号的信号准位为L准位的次数,在每个第二触发信号的相位加以计数;以及一不及格记忆体,使该第一计数器所计数的次数、及该第二计数器所计数的次数加以存储。
地址 日本东京