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发明名称 Semiconductor Memory Test Apparatus with Error Classification Means and Related Test Method
摘要
申请公布号 KR100954976(B1) 申请公布日期 2010.04.30
申请号 KR20087015765 申请日期 2006.11.20
申请人 发明人
分类号 G11C29/56;G11C29/20;G11C29/42 主分类号 G11C29/56
代理机构 代理人
主权项
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