发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Steuerparametern für eine Bestrahlungsanlage, Bestrahlungsanlage und Bestrahlungsverfahren
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung von Steuerparametern für eine Bestrahlungsanlage, mit welcher eine Vielzahl von Strahlungsdosen nacheinander an unterschiedlichen Zielpunkten in einem Zielvolumen deponierbar ist. Die Vorrichtung umfasst eine Eingabeeinrichtung, welche zum Erfassen eines Zielgebietes und zum Erfassen einer Bewegung des Zielgebiets ausgebildet ist, eine Auswertungseinrichtung zum Ermitteln von Steuerparametern zur Steuerung eines Strahls, derart, dass mit Hilfe der Steuerparameter ein Strahl der Bewegung des Zielgebiets nachführbar ist und in dem Zielgebiet eine definierte Dosisverteilung deponierbar ist, wobei die Auswertungseinrichtung derart ausgebildet ist, dass bei der Ermittlung der Steuerparameter zumindest ein erster wählbarer Steuerparameter so bestimmt wird, dass der Strahl der Bewegung des Z nachgeführt wird, oder dass bei der Ermittlung der Steuerparameter zumindest ein erster wählbarer Steuerparameter und ein weiterer Steuerparameter, welcher eine Energiemodulation des Strahls repräsentiert, ermittelt werden, wobei die Ermittlung des zumindest einen ersten Steuerparameters und des weiteren Steuerparameters unter Berücksichtigung der Bewegungsnachführung in Strahlrichtung erfolgt.</p>
申请公布号 DE102008051476(A1) 申请公布日期 2010.04.29
申请号 DE20081051476 申请日期 2008.10.13
申请人 GSI HELMHOLTZZENTRUM FUER SCHWERIONENFORSCHUNG GMBH;SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BERT, CHRISTOPH;RIETZEL, EIKE;GEMMEL, ALEXANDER;SAITO, NAMI
分类号 A61N5/10 主分类号 A61N5/10
代理机构 代理人
主权项
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