光学存储装置决定缺陷检测模式的方法

摘要

本发明公开一种光学存储装置决定缺陷检测模式的方法，其是先分配光学存储媒体上至少一个检测区以作为存储数据处，并依据缺陷数量多少而设定该检测区为写入检测或写入验证的缺陷检测模式。当该检测区执行该写入检测而发现缺陷累积数量大于一预设的阈值时，则将该检测区变更设定为写入验证的缺陷检测模式。

主权项

一种光学存储装置决定缺陷检测模式的方法，应用于一未格式化或缺陷分布信息不明的光学存储媒体，该方法包含下列步骤：分配该光学存储媒体的至少一检测区以作为数据存储区域；设定该检测区为一写入检测的缺陷检测模式，并以该写入检测的缺陷检测模式将数据写入该至少一检测区内；以及若在数据写入过程发现任一该检测区的缺陷累积数量大于一预设的阈值，则将该缺陷检测的缺陷检测模式改为一写入验证的缺陷检测模式。