| 发明名称 |
System for measuring residual voltages in polycrystalline materials by X-ray diffraction method |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
CZ20790(U1) |
申请公布日期 |
2010.04.28 |
| 申请号 |
CZ20100022249U |
申请日期 |
2010.02.08 |
| 申请人 |
CESKU VYSOKU UCENI TECHNICKU V PRAZE� |
发明人 |
KOLARIK KAMIL;GANEV NIKOLAJ |
| 分类号 |
G01L1/25;G01N23/083;G01N23/20;G01N23/207 |
主分类号 |
G01L1/25 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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