发明名称 |
铜工艺焊垫结构及其制造方法 |
摘要 |
一种铜制程焊垫结构及其制造方法,此铜制程焊垫结构包含第一保护层,第二保护层,以及多个焊垫。第一保护层与第二保护层,是覆盖于半导体基材的最上层铜金属内联线之上,且具有多个开口,使露出最上层铜金属内联线表面。而焊垫形成于第一保护层的开口上方,并与最上层铜金属内联线表面相互连接,且相邻的焊垫彼此之间由第二保护层所隔离。本发明的另一方面是说明形成上述的铜制程焊垫的制造方法。通过本发明的铜制程焊垫结构及其制造方法,可防止焊垫之间短路的情况,提高集成电路产品的可靠度,还可提高集成电路的焊垫密度,以有效增加集成电路产品的输出/输入接口的数量,增强集成电路产品的功能。 |
申请公布号 |
CN1574321B |
申请公布日期 |
2010.04.28 |
申请号 |
CN200310120177.7 |
申请日期 |
2003.12.10 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
赖嘉宏;林俊吉;张宗生;曹敏;曾焕棋;李豫华;杨青天 |
分类号 |
H01L23/48(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/48(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
经志强;潘培坤 |
主权项 |
一种铜工艺焊垫结构,至少包含:一第一保护层,覆盖于一半导体基材的一最上层金属内联线之上,其中该第一保护层具有数个第一开口,且所述第一开口露出该最上层金属内联线的数个区域;一第二保护层,形成于该第一保护层之上,具有数个第二开口,且分别对应于所述第一开口,以露出所述第一开口;以及数个焊垫,形成于所述第一开口之上,并位于所述第二开口之中的该第二保护层的侧边,且所述焊垫的部分区域位于该第一保护层之上,并且所述焊垫与该最上层金属内联线所露出的所述区域电性连接,其中所述焊垫为铝铜合金所构成的焊垫。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |